X射线荧光光谱仪

在20世纪20年代，瑞典的G.C. Dehevisi和R. Glocker试图将这种方法应用于定量分析，但由于当时记录和检测仪器的限制，无法实现。

20世纪40年代后期，随着核物理探测器的改进，各种计数器相继应用于X射线的探测，该方法的实际应用成为现实。

1948年，H。

Friedman和L.S.伯克斯制造了波长色散X射线荧光分析仪，这种方法开始发展。

从那时起，随着X射线荧光分析理论和方法的逐步发展和完善，仪器的自动化和计算机水平的快速提高，该方法在20世纪60年代的常规分析中的重要性得到了充分的证明。

20世纪70年代以后，它已发展成两个分支，X射线光谱（波长色散）和X射线能谱（能量色散），取决于激发，色散和检测方法。

两者的应用现已遍及各行各业和研究。

部门。

X射线荧光光谱仪主要由激发，色散，检测，记录和数据处理单元组成。

激发单元的作用是产生初级X射线。

它由高压发生器和X射线管组成。

后者更强大，同时用水和油冷却。

色散单元的功能是分离所需波长的X射线。

它由样品室，狭缝，测角仪，分析晶体等组成。

通过测角仪以1：2的速度分析晶体和探测器，可以在不同的布拉格角位置测量不同波长的X射线，以对元素进行定性分析。

探测器的功能是将X射线光子能量转换成电能。

通常使用的是盖革计数管，比例计数管，闪烁计数管，半导体检测器等。

记录单元由放大器，脉冲幅度分析器和显示部分组成。

定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机并在线处理，以获得被测元素的内容。

X射线荧光光谱仪可以一次分析单个元素或多个元素，并具有单个和多个通道。

贵金属珠宝的X射线荧光光谱法是国际金融组织推荐的测试方法之一。

由于元素和内容直接显示，测量简单，特别是定性和半定量分析快速准确。

定量分析比定性和半定量分析更复杂，因为它需要一个准确比较的标准。

具体步骤如下：1。

做标准样品的定量变化工作曲线;将待测样品放入样品室进行测试，记录元件和内容参数;转动要测试的样品并记录元素和内容参数。

根据平均含量参数检查标准工作曲线，并从工作曲线中找到元素的确切内容。

湖分析的要素很广泛，可以分析周期表中前92个要素的几乎所有要素;分析范围很广，几乎可以测量lOO％到几十万个点，精度不低于其他检测方法;分析过程中样品没有损坏; 4.快捷方便，可在一两分钟内完成二三十个元素的测量;与样品的形态无关，可以分析固体，液体，块状，颗粒，粉末，薄膜或任何尺寸的样品; 6. X射线能量远大于其他无损检测方法（全功率高达2.7）XW），X射线透射深度接近1mm，可以更好地解决镀金，镀金的测试问题样本;操作员的技术熟练程度不高。